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目前在美国Portland,OR 工作。黄宇博士的研究领域包括大规模集成电路的测试和诊断,现在拥有37项美国专利,并发表了120篇国际论文。他是IEEE高级会员,也是DAC, ITC, VTS, ATS, ETS, ASPDAC, NATW 等多个国际会议的组委会委员。